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电源单板硬件测试规范

修订信息登记表

第 2 页

第 3 页

第 4 页

前言

摘要：

本规范介绍了电源单板硬件测试的项目、测试方法以及测试原理。

关键词：

电源单板硬件测试原理图波形测量电路计算

缩略词解释

LCD: Liquid Crystal Display

LED: Light Emitting Diode

CPU: Central Processing Unit

一. 目的

规范监控单板的白盒、极限测试，包含测试项目、测试说明、测试方法以及判定标准等；

规范通信监控单板白盒极限测试的基本原则、不合格问题分类与质量判定标准；

二. 适用范围

适用于公司所生产的电源系统及环境监控的监控单板。

三. 引用/参考标准或资料

《产品开发规格书》、《单板详细设计书》

四. 名词解释

1 IEC ：国际电工委员会

2 EUT ：被测设备

3 劣化(性能) ：任何装置、设备或系统的工作性能与正常性能非期望的偏离。劣化可应用于暂时性

或永久性的故障。

4 正常工作：监控单板功能符合设计要求。

五. 测试基本原则及判定准则

5.1 测试基本原则

以标准（IEC 标准和其它国际标准、国家标准、部颁标准）、开发规格书、企业标准、测试规范

为依据，以测试数据为准绳，站在用户的角度上对监控单板进行评测，将功能缺陷与故障隐患暴露

第 5 页

在测试阶段。

系统指标判据以开发规格书和企业标准为准，当测试项目在开发规格书和企业标准中未明确界

定时，以测试规范中系统指标的默认参考指标或相关行业标准为准。

测试工作不受项目开发组态度与思路及其他干扰测试过程因素的影响，独立按照测试流程进行。

样机测试中，如果因测试问题较严重，已影响系统测试工作的顺利进行，需停止测试，方允许

在受测系统上进行修改，项目开发组对问题进行修改并完成自测后，重新提交测试申请，转入下一

循环的测试。其余情况下，测试问题只能在第二套样机上进行修改及自测，并进行记录。在下一测

试阶段，对改正后的测试问题进行系统验证并进行其它项目的测试。中试测试着重测试设计产品的

复制效果——复制品性能、指标的达标情况。

5.2 技术指标说明

开发规格书或企业标准规定的指标低于业界相关标准的规定时，需修改开发规格书或企业标准，否则

依据业界标准判定开发规格书或企业标准不合格，并提请总体办重新对开发规格书或企业标准进行评

审。

 指标界定

部标为最低标准，当开发规格书优于部标、国标或国际标准时，以开发规格书和企业标准为准：

未做特殊说明的指标为开发规格书、项目任务书及相关标准中界定的指标要求，是产品必须具备的基

本指标。

5.3 不合格测试项目分类准则

请参考测试部制定的《测试问题分类标准》。

5.4 质量判定准则

 合格判定：

无 A 、B 类不合格项，C 类不合格项小于 3 项，判定系统合格。

 不合格判定：

◆A 、B 类问题，一项不合格，既判定系统不合格；

◆C 类问题，三项（不含三项）以上不合格，既判定系统不合格；

 D 类问题判定：

由总体组和专家组，参照技术、市场、生产、成本等等限制条件确定其对系统合格与否的影响。

对 D 类问题的判定结果，由总体组和专家组负责，不计入测试部的评定指标范围。

 对本规范，如果没有特别说明，不合格的为严重问题。

5.5 测试准备

单板测试前需要先进行上下电切换 20 次及快速上下电 20 次，人为以最快的速度进行上下电，（考

察 CPU 及 SDRAM 和 Flash 是否因掉电时间缓慢引起异常），不能有损坏，监控不

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